seK機器視覺檢測設(shè)備_CCD視覺檢測_外觀缺陷檢測系統(tǒng)_精質(zhì)視覺

　　蓋帽外觀缺陷檢測設(shè)備應(yīng)用于鋰微型電源電力行業(yè)蓋帽外觀缺陷檢測。該設(shè)備離線將批量蓋帽放入振動盤進行直振，排序上料到達光學(xué)檢測玻璃轉(zhuǎn)臺區(qū)域進行實時采圖。檢測區(qū)域采用五個高精度光學(xué)相機加微焦鏡頭呈360角覆蓋分布，全方位采集蓋帽上下表面、內(nèi)外圍側(cè)面圖像數(shù)據(jù)，并傳送進含銘工業(yè)檢測平臺進行深度學(xué)習(xí)運算，根據(jù)客戶標準進行良疵判定，再利用分揀吹料機構(gòu)將不良品吹落至NG區(qū)歸類。設(shè)備基于機器視覺原理和深度學(xué)習(xí)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)缺陷識別算法，支持GPU加速，高效檢測外觀缺陷，速率達每分鐘250個以上，識別率達100%，誤識別率小于1%，大大提高了蓋帽外觀檢測質(zhì)量與效率，深受客戶好評。seK機器視覺檢測設(shè)備_CCD視覺檢測_外觀缺陷檢測系統(tǒng)_精質(zhì)視覺