測(cè)厚儀怎么檢測(cè)薄膜

2022-08-20 13:16:33 精質(zhì)視覺

　　薄膜的厚度是否均勻是測(cè)試膜性能的基礎(chǔ)。顯然，如果一批單層膜的厚度不均勻，不僅會(huì)影響膜的拉伸強(qiáng)度、阻隔性能和其它指標(biāo)，還會(huì)影響膜的后續(xù)加工。此外，合理控制產(chǎn)品厚度不僅可以提高產(chǎn)品質(zhì)量，而且可以減少材料消耗，提高生產(chǎn)效率。因此，膜厚是否均勻、膜厚是否與預(yù)設(shè)值一致、膜厚偏差是否在規(guī)定范圍內(nèi)都是膜能否具有一定特性的重要前提。薄膜厚度測(cè)量是薄膜制造中的一項(xiàng)基本工作。

　　然而，市場(chǎng)上有很多種薄膜厚度測(cè)量設(shè)備，您選擇合適的厚度計(jì)嗎?

　　測(cè)試塑料薄膜厚度最早用于薄膜厚度測(cè)量的技術(shù)是實(shí)驗(yàn)室測(cè)厚技術(shù)，在實(shí)驗(yàn)室對(duì)薄膜進(jìn)行取樣測(cè)試，獲得薄膜厚度數(shù)據(jù)。之后，隨著技術(shù)的不斷發(fā)展，逐漸開發(fā)出可用于薄膜生產(chǎn)線的在線測(cè)厚設(shè)備。在線測(cè)厚儀技術(shù)與離線測(cè)厚儀技術(shù)在測(cè)試原理上完全不同。一般來說，在線測(cè)厚儀多采用射線技術(shù)等非接觸式測(cè)量來突破規(guī)律，離線測(cè)厚儀技術(shù)一般采用機(jī)械接觸式測(cè)量或基于渦流和電磁感應(yīng)原理的測(cè)量方法，也有光學(xué)測(cè)厚和超聲波測(cè)厚技術(shù)。

　　面對(duì)我們上述問題如此之多的測(cè)厚方法，企業(yè)在選擇薄膜厚度進(jìn)行檢測(cè)技術(shù)設(shè)備的時(shí)候，該作何選擇呢?

　　1、射線式測(cè)厚儀

　　X射線技術(shù)是一種常用的在線測(cè)厚設(shè)備，對(duì)測(cè)量對(duì)象的要求不高。然而，由于在線測(cè)厚儀需要安裝在薄膜生產(chǎn)線上，由于生產(chǎn)線中環(huán)境溫度、大氣壓力變化、薄膜波動(dòng)等因素，對(duì)X射線測(cè)厚儀的要求非常高，因此設(shè)備的價(jià)格和隨后的維護(hù)成本將相當(dāng)大。對(duì)于企業(yè)來說，成本將很高。

　　2、機(jī)械接觸式測(cè)厚儀

　　機(jī)械接觸式厚度計(jì)，與非接觸式厚度測(cè)量方法本質(zhì)上不同——在測(cè)試過程中，測(cè)量裝置會(huì)在試樣的測(cè)量表面施加一定的壓力(點(diǎn)接觸力或表面接觸力) ，這樣可以避免使用非接觸式厚度計(jì)測(cè)量具有一定壓縮性的物體，不均勻的物體表面可能會(huì)出現(xiàn)較大的數(shù)據(jù)波動(dòng)。機(jī)械接觸式厚度計(jì)是最傳統(tǒng)、最基本的厚度測(cè)量方法，測(cè)量數(shù)據(jù)穩(wěn)定可靠，對(duì)樣品沒有選擇性。由于這種厚度計(jì)的測(cè)量精度主要取決于厚度傳感器的測(cè)量精度，目前市場(chǎng)上機(jī)械接觸式厚度計(jì)的測(cè)量精度參差不齊。

　　3、渦流測(cè)厚儀、磁性測(cè)厚儀

　　渦流測(cè)厚儀和磁性測(cè)厚儀一般來說都是一個(gè)小型便攜式電子設(shè)備，分別利用了電渦流原理和電磁感應(yīng)原理。設(shè)備可用于通過各種具有特定涂層厚度的測(cè)量，但是可以用于測(cè)量薄膜、紙張的厚度時(shí)有出現(xiàn)一些誤差的可能。對(duì)于學(xué)生測(cè)試結(jié)果精度設(shè)計(jì)要求我們非常高的企業(yè)發(fā)展來講，選購時(shí)需要多加考慮，精度不夠高、容易導(dǎo)致出現(xiàn)誤差的現(xiàn)象，可能會(huì)給中國(guó)企業(yè)管理帶來很多不必要的麻煩。OU3500涂層測(cè)厚儀

　　4、超聲波測(cè)厚儀

　　超聲波測(cè)厚儀也主要是小型便攜式裝置，其使用超聲波反射原理來測(cè)量金屬、塑料、陶瓷、玻璃和任何其它良好的超聲波導(dǎo)體的厚度。可以在高溫下操作，這在許多其他類型的厚度計(jì)中是不可用的，但是對(duì)于被測(cè)試的試樣類型是有選擇性的。